主营：半导体器件,半导体器件
所在地:
陕西 西安
产品价格:
电议
最小起订:
1
发布时间:
2024-11-29
有效期至:
2024-12-29
系统概述：
IGBT广泛应用于现代中、大功率变换器中，其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。
该系统是针对IGBT 器件的开关特性及内部续流二极管的反向恢复特性而推出的全自动测试系统。适用于电流小于4500A，集电极电压 小于6000V，续流二极管正向电流小于4500A的IGBT 器件的特性参数测试。
系统单元：
|
开通时间测试单元 |
该系统的测试单元通过电容充放电原理产生电流波形，测试时根据不同的测试条件，设定测试电压，再通过调节不同的电感值或选择不同的测试脉冲宽度来输出测试要求的电流值，测试的电压和电流波形同时被采集到示波器，并由示波器与工控机直接通讯，将采集数据传输给计算机，计算机经过处理后,将测试数据以表格形式显示并进行最终的编辑和打印。 |
|
关断时间测试单元 |
|
|
栅极电荷测试单元 |
|
|
计算机控制单元 |
|
|
PLC控制单元 |
|
|
气动压力夹具 |
|
|
二极管反向恢复测试单元 |
参数条件：
|
|
开通特性 |
关断特性 |
气动夹具 |
||
|
测试参数 |
开通延迟 |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25ºC和125 ºC |
关断延迟 |
10-2000ns±5%±10nS Tj=25ºC和125 ºC |
压 力： 5000Pa的品牌空压机供气。 控温范围： 25℃-200℃ 控温精度： ±1.0℃±1% 器件接触： 20 个探针的接触矩阵 |
|
上升时间 |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25ºC和125 ºC |
下降时间 |
10-2000ns±5%±10nS Tj=25ºC和125 ºC |
||
|
开通能量 |
1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25ºC和125 ºC |
关断能量 |
1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25ºC和125 ºC |
||
|
测试条件 |
集电极电压 |
50-3500V±5% 根据用户要求定制 |
集电极电压 |
50-3500V±5% 根据用户要求定制 |
|
|
集电极电流 |
50-1500A±5% 根据用户要求定制 |
集电极电流 |
50-1500A±5% 根据用户要求定制 |
||
|
负载 |
20-1000uH |
负载 |
20-1000uH |
||
|
栅极电压 |
±15V±3%±0.2V |
|
|
||
|
栅极电荷 |
一次短路 / 脉宽10uS / 短路电流10KA |
||||
|
短路测试 |
反向恢复电流 / 反向恢复时间 / 反向di / dt |
||||
|
二极管反向参数 |
400-20000nC |
||||