广州昌利信科学仪器有限公司

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X射线荧光镀层厚度测量仪

产品信息

产品详细

概要：

是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。可以测定结构部件有凹凸的样品和印刷基板等大面积样品。对照采用激光射线的Z轴方向的焦点，可以发挥测定值的再现性。而且物美价廉。

特长：

 
1.操作非常简单。
2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。
3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。
4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择)
5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。

1.操作非常简单。

2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。

3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。
4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择)
5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。

 
1.操作非常简单。
2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。
3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。
4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择)
5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。

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