深圳市金东霖科技有限公司

主营:膜厚仪,膜厚测试仪,电镀膜厚仪,半导体膜厚仪,X-RAY膜厚仪,X射线膜厚仪,镀金膜厚测试仪

供应博曼台式x射线测厚仪

产品信息

产品详细

博曼台式x射线测厚仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
博曼台式x射线测厚仪能实现如下测试要求:
符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度
符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层
至多同时分析25种元素
经实践验证、坚固、耐用的设计,可在绝大多数严苛的工业条件下使用。
空间占用小 –节约宝贵的工作台空间,也可近产线放置。
计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。
行业用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量. 

1898年11月8日,伦琴发现了X射线,从此无损检验技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺点得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中,它以光速直线传播,本身不带电,故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中,我们知道,凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下,高速运动时,突然撞击到靶面,(会产生很大的负加速度)从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说,它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面,当电子的动能足够大时,将会把靶面原子的内层电子轰击出来,在原位置形成孔穴,而此刻,外层的电子(位于高能级)产生跃迁以填补该孔穴。同时,它将多余的能量以X射线的形式放出,形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检验探伤中,一般用前者。

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