沈阳天星涡流ED400测厚仪

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天星涡流测厚仪ED400

产品性能:

·ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能大幅度提高。

·仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查,可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。

·仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

·仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳较氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳较氧化膜或涂层厚度,以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

·ED400型涡流测厚仪与ED300型相比,具有如下特点:

·量程宽:ED400型的量程达到0500μm

·精度高:ED400型的测量精度达到2%

·分辨率高:ED400型的分辨率达到0.1μm

·校正简便:只校正“0”“50μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。基体导电率影响小:基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量 误差不大于12μm

·可靠性提高:采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性 提高。

·稳定性提高:采用先进的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器 校正一次可在生产现场长期使用。

·探头线寿命长:采用德国进口的,在德国测厚仪上使用的探头线,探头线寿命可大大延长。

·探头芯寿命长:采用高度度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。

·探头可互换:外接式探头,探头损坏后,使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。

技术参数:

·测量范围:0500μm

·测量精度:050μm±1μm

50500μm±2%

·分辨率:050μm0.1μm

50500μm1μm

0500μm1μm(可选)。

·使用温度:545℃。

·外形尺寸:150mm×80mm×30mm

·重量:260g

标准配置:

·主机            1台。

·探头            1支。

·基体            1块(6063合金)。

·校正箔片        1片(约50μm,附检验报告)。

·使用说明书      1份。

·合格证          1份。

·保修单          1份。

·手提式仪器箱    1个。

可选附件:

·备用探头。

·基体。

·校正箔片(约50μm,附检验报告)。

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