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单晶硅(Si)高精度窗口片

产品信息

产品详细

“单晶硅(Si)高精度窗口片”参数说明

型号:Si规格:30 μm - 1 mm
商标:一博包装:纸箱
Heat Capacity:1.3 J/(g*K)

单晶硅(Si)高精度窗口片”详细介绍

特性

  • 直径1/2英寸和1英寸的版本可供选择

  • 适用于红外波段的应用,1.2 - 8 ?m波段

  • 可选择不镀膜或者镀增透膜(3 - 5 ?m平均反射率小于2%)

QXKJ的准确单晶硅(Si)窗口片有两种尺寸:?1/2和?1英寸。它们可以选择不镀膜或者两面都镀增透膜,镀膜的情况下,在3 - 5 ?m的范围内平均反射率小于2%(详情请看曲线标签)。硅具有高的热传导率和低的密度,使其适合制作成激光反射镜。然而,由于硅在9微米波长处有很强的吸收,并不适合用于二氧化碳激光透射应用。

(Si)透镜和窗口片是使用近红外和部分中红外波长范围应用的理想选择。硅材料热传导率高、密度低,使之适于激光反射镜。但是,硅在9 ?m时吸收强,它不适于二氧化碳激光透射应用。硅光学元件也特别适于成像、生物医学和军事应用。我们的量子级联激光器与硅光学元件一起使用时,可以提供一些输出波长。 硅能够透射的光波长范围从1.2 ?m到8.0 ?m,在4.58 ?m处折射率是3.423。

Silicon Specifications

Index of Refraction at 4.58 ?ma

3.423

Abbe Number (Vd)

Not Defined

Transmission Range

1.2 - 8.0 ?m

Density

2.329 g/cm3

Knoop Hardness

1100 kg/mm2

Young's Modulus

130.91 GPa

Shear Modulus

79.92 GPa

Bulk Modulus

101.97 GPa

Poisson's Ratio

0.28

Coefficient of Thermal Expansion

4.50 x 10-6 /�C

Heat Capacity

0.84 J/(g*K)

Melting Point

1690 �C

Change in Index of Refraction 
with Temperature (@ 10.6 μm)

160 x 10-6 /�C


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