奥林巴斯OmniScan MX UT超声波探伤仪

奥林巴斯 OmniScan MX UT超声波探伤仪衍射时差检验

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->衍射时差法（TOFD）是一种使用两个探头以一发一收模式进行检验的技术。TOFD探测并记录来自缺点端部的衍射信号，从而进行缺点探测和缺点定量。TOFD数据显示在灰度图象B扫描视图中。TOFD检验方法符合ASME?2235规范，覆盖范围宽，且对缺点进行定量时无需考虑波幅。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->单线扫查，进行全体积检验。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->进行设置时，无需考虑焊缝结构。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->对于各种缺点都非常灵敏，且不受缺点方向影响。

奥林巴斯OmniScan MX UT超声波探伤仪衍射时差（TOFD）和脉冲回波检验

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]--> 奥林巴斯探伤仪尽管TOFD是一种非常强大有效的检验技术，但由于两个检验盲区的存在，其覆盖范围又有局限性。两个盲区的位置在近表面和底面。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->OmniScan® UT 探伤仪的检验可同时使用TOFD与常规脉冲回波方法。脉冲回波法可以覆盖盲区，从而弥补了TOFD的不足之处。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->TOFD检验。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->45º脉冲回波法，用于从焊缝两侧对焊冠进行检验。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->60º脉冲回波法，用于从焊缝两侧对焊根进行检验。

奥林巴斯OmniScan MX UT超声波探伤仪零度检验（腐蚀和复合材料）

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->零度检验测量从工件反射到闸门中的超声回波的传播时间和波幅，以便对缺点进行探测和测量。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->C扫描成像

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->带有C扫描后处理的完整A扫描记录

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->监控每个闸门中的波幅、峰值位置、穿出闸门阈值位置和厚度。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->自动闸门与前面的闸门同步，从而得到更大的厚度动态范围。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->A扫描数据存储和C扫描后处理功能。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->可选IF闸门，用于界面跟进同步、测量闸门，或TCG/DAC曲线。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->射频信号上的正闸门或负闸门（闸门间彼此单独）。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->8路可被完全配置的启动紧急信号，用于单闸门或多闸门中的事件；滤波器，可设定单通道或多通道的事件次数。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->用户可定制彩色调色板，用于波幅和厚度C扫描。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->颜色可调，彩色调色板有256种颜色。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->双轴机械编码功能，数据采集和机械扫查同步。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->可选数据库，便于用户在个人计算机上处理A扫描和（或）C扫描。

奥林巴斯OmniScan MX UT超声波探伤仪全功能B扫描

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->便于判读的被检工件横截面视图。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->锅炉、管道、储物容器的腐蚀图像的清晰显示。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->采集到的厚度值一目了然。

<!--[if !supportLists]-->l <!--[endif]-->编码TOFD功能，用于无需考虑波幅因素的缺点定量。