深圳市金东霖科技有限公司

主营:膜厚测试仪,镀层膜厚测试仪,半导体膜厚测试仪,镀金膜厚仪

供应半导体X射线膜厚测试仪

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Bowman膜厚测试仪仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观 FISCHER XRAY 膜厚仪采用真实的基本参数原理(FP)来测量厚度,

准。德国菲希尔 FISCHER成立 1953 年是世界上有经验生产涂镀层测厚仪较早的厂家之一 其电镀膜厚仪占世界 80市场, 德国菲希尔 FISCHER 已成为镀层厚度测量和材料测试仪器领域公认的带领者

可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 

二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 

三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 

双镀层:例如AuNiCu,CrNiCu,AuAgNi,SnCuBrass,等等。 

双镀层,其中一个镀层为合金层:例如CrNiCuPlastic;Fe。 

较多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。 

分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。 

分析电镀溶液中的金属离子浓度。 

让客户满意,为客户创造非常大的价值是金霖始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图 

美国博曼BowmanXRF1膜厚测试仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检验需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保较佳的信躁比,从而降低检验下限。探测器分辨率较高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。元素成分分析检验结果可准确到ppm级,您可以针对您的应用选择较合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合

 

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