主营:膜厚测试仪,镀层膜厚测试仪,半导体膜厚测试仪,镀金膜厚仪
所在地:
广东 深圳
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电议
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1
发布时间:
2016-03-14
有效期至:
2016-04-14
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偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和
薄层磁头金属化分析等。
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