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主营:膜厚测试仪,镀层膜厚测试仪,半导体膜厚测试仪,镀金膜厚仪

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曼XRAy电镀膜厚测试仪哪里有购买的?
美国博曼(BOWMAN) X射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能

不单性能优越而且价钱超值.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒

钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.

。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高是五金电镀首

饰端子等行业的优选。可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份

分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。安全性能:通过美

国PTB安全验证,符合美国较高安全法规标准。可测元素范围:钛(Ti) &ndash 铀

(U) 可测量厚度范围:原子序2225,0.10.8&mum 2640,0.0535&mum 4352,

0.1100&mum 7282,0.055&mum 准直器:0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。可选四

个组合:0.1mm 0.2mm 0.3mm 0.4mm或50um 75um×200um 150um×

300um 300um或特别订造。Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。自动测量功能:

编程测量,自定测量修正测量功能:底材修正,已知样品修正综合性能:镀层

分析 定性分析 定量分析 镀液分析镀层分析:可分析三层厚度独有的FP分析

软件真实做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料)为您节省购

买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。镀液分析:可分析镀液的主成

份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度镀铜药水的铜离子浓度等)简单的核对方式

无需购买标准药液。定性定量分析:光谱表示,光谱比较,可定性分析20多种

金属元素;并可合金成份分析,可定量分析成分含量。光谱对比功能:可将样

品的光谱和标准件的光谱进行对比可确定样品与标准件的差别从而控制来料

的纯度。统计功能:x管理图,xR管理图,直方柱图,能够将测量结果进行系

统分析统计方便有效的控制品质。

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