功能特点：

XRF-2002膜厚仪X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用

可在建立测量曲线存储的情况下提供易于操作、快速和无损的电镀膜厚测量。

范围包括从元素周期表中的Ti 22到 U92

XRF-2020具有大小不同的样品舱。

微先锋XRF-2020电镀层测厚仪

产品功能：

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材！

1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金，铬，锌镍合金等。

2. 镀层层数：可测5层。

3. 测量产品位置尺寸：标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)

4. 测量时间：通常15秒。

5. H型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。

6  L型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。

7. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

8. 可测厚度范围：通常0.01微米到60微米，视样品组成和镀层结构而定。

产品参数：

X射线光管 钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

高电压 50千伏（1毫安）可根据软件控制优化

探测器 高分辨气体正比计数探测器

准直器 单一固定准直器直径0.2mm(可选或订制其他规格)

·全自样品台，自动雷射对焦