建研仪器

主营:导电率测试仪,探伤仪,硬度计,测厚仪,色差计,各种试验机设备,二次元等光学仪器,各种金相设备

便携式金属成分分析仪

产品信息

产品详细

光谱仪技术配置

1. 探测器
-- SDD硅漂移探测器(电制冷,只需要通电即可)
--典型分辨率:123ev,133ev(50000CPS).
--输入计数率:100KCPS,远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右)
--峰背比:>20000
--铍窗厚度:8um Dura Be(一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率,独特的Dura技术
 Be窗可以耐酸,碱的腐蚀)
--处理器:数字电路,放大倍数,时间常数可任意设置。
--高寿命,借助于其独特的Dura Be技术,探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏,晶体不会损伤,无需担心后期的维护费用
2. X射线管
--高压:0-50Kv连续可调
--电流:0-1000uA连续可调(0-2500uA可选,大电流对Na-K有更好的激发效果)
--功率:50W
--稳定性:8小时0.2%
--高寿命,正确操作的情况下寿命可以达到50000小时
3. 高压发生器
--输入电压:24VDC
--输入电流:4A
--输出电压:50Kv1mA(2.5mA可选,适配2500mA光管)
--非常大功率:50W
--稳定性:8小时0.05%
4.准确结构设计
--垂直倒角设计,准确的控制保证优异的重复性,上照式设计可以完全避免灰尘的污染,使得仪器可以做到真实的免维护
5.冷却散热系统
--良好的多级温控自反馈电路,室温在5-25度,仪器结果不会有影响。
6.自动进样系统
--8样品自动进样
二、           光谱分析系统控制和数据处理系统
--12位模/数转换器
--17英寸显示器
-- PentiumE5200计算机
--250G以上硬盘驱动
--多功能标准键盘
--打印机
三、         分析软件
--元素测量范围:Na-U
--可对RoHS指令中的五种有害元素进行准确测试
--可以测量镀层厚度
--标准曲线法,理论系数法,基本参数法,多元比例法使您轻松应对各种样品的分析
--公开式软件设计,您可以自己开发新的工作曲线
--内置式参数设计,您在自己制作工作曲线时,各种干扰自动扣除。
四、尺寸规格
--900mm550mm680mm
五、           重量
重量约100kg
六、电源要求
--220V±10% 50Hz
七、工作环境
--温度范围:530
--相对湿度小于等于80%
 
 

高炉渣验收标准
元素
水平范围
重复性r
SiO2
540
lgr=1.2028lgm-2.5858
Al2O3
0.125
lgr=0.1931 lgm-1.1013
TFe
0.130
lgr=0.4353lgm-1.4478
CaO
2070
lgr =0.7510 lgm -1.8098
MgO
0.120
lgr =0.4380 lgm -1.4023
MnO
0.0110
lgr =0.5388 lgm -1.5048
S
0.013
lgr =0.5485 lgm -1.5077
TiO2
0.012
lgr =0.2912 lgm -1.7590
注:m是分析元素的含量用质量百分数计,以%表示

不锈钢及合金钢验收标准
元素
水平范围
重复性
Si
0.102.30
r=0.0037+0.0047m
Mn
0.142.80
r=0.0056+0.0040m
P
0.0040.070
r=0.0011+0.022m
S
0.0070.060
r=0.00040+0.057m
Cr
0.1417.50
r=-0.00015+0.0037m
Ni
0.0828.50
r=0.0095+0.0018m
Cu
0.063.06
r=0.0052+0.0041m
Mo
0.082.00
r=0.0013+0.0038m
V
0.050.65
r=0.0022+0.0072m
Ti
0.030.80
r=0.0030+0.0040m
Co
0.030.30
r=0.0039+0.016m
Nb
0.021.20
r=0.0021+0.0038m
Al
0.011.10
r=0.0029+0.0092m
W
0.085.40
r=0.0039+0.0061m
Zr
0.010.20
r=0.0012+0.0032m
注:m是分析元素的含量用质量百分数计,以%表示

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